迈克耳孙干涉仪实验中等倾与等厚干涉条纹的判别 |
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引用本文: | 赵莹,刁训刚,王惠棣.迈克耳孙干涉仪实验中等倾与等厚干涉条纹的判别[J].物理通报,2003(5):28-31. |
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作者姓名: | 赵莹 刁训刚 王惠棣 |
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作者单位: | 天津大学理学院应用物理学系,天津,300072 |
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摘 要: | 仔细研究了迈克耳孙干涉仪实验中产生等倾干涉和等厚干涉的实验条件和它们所产生的条纹的区别.提出了判别迈克耳孙干涉实验中等倾与等厚干涉条纹的依据.从而帮助学生加深对这两种干涉条纹的理解和判别.特别是在反射镜M1与M2不严格垂直时,同样可以观察到类似于等倾干涉的准圆环状条纹.我们对这一现象进行了分析和解释,并首次推导出等厚干涉直条纹任意一点上的微商(aδ/ad=2)为常数的结论,这一结果可以作为对迈克耳孙干涉仪现象的一个补充。
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关 键 词: | 迈克耳孙干涉仪 等厚干涉条纹 等倾干涉条纹 物理实验 波动光学 |
How to Distinguish Equal Inclination and Equal Thickness Interferences in Michelson Interferometer Experiment |
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Authors: | Zhao Ying Diao Xungang Wang Huidi |
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Abstract: | |
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Keywords: | |
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