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电沉积WO3薄膜及其光电性能的表征
引用本文:郝金玲,姜春萍,张艳辉,杨鑫,康洪,陈金伟,练晓娟,刘尚军,王瑞林. 电沉积WO3薄膜及其光电性能的表征[J]. 化学研究与应用, 2010, 22(5)
作者姓名:郝金玲  姜春萍  张艳辉  杨鑫  康洪  陈金伟  练晓娟  刘尚军  王瑞林
作者单位:四川大学材料科学与工程学院,四川,成都,610065;四川大学材料科学与工程学院,四川,成都,610065;四川大学材料科学与工程学院,四川,成都,610065;四川大学材料科学与工程学院,四川,成都,610065;四川大学材料科学与工程学院,四川,成都,610065;四川大学材料科学与工程学院,四川,成都,610065;四川大学材料科学与工程学院,四川,成都,610065;四川大学材料科学与工程学院,四川,成都,610065;四川大学材料科学与工程学院,四川,成都,610065
基金项目:国家高技术研究发展计划(863计划),教育部科技创新工程重大项目培育基金,高等学校博士学科点专项科研基金,成都市科技局攻关计划项目 
摘    要:本文采用电化学法制备了均匀、附着力强的WO3薄膜,研究了不同沉积电位和不同的沉积时间对薄膜的光电性能影响,并使用了XRD,UV-vis,M-S,光电流光谱(IPCE)等分析表征手段对薄膜进行了表征。实验结果表明,所制得的WO3薄膜为单斜晶系,退火后沿(200)晶面择优生长;对比所有沉积电位,-0.45 V沉积电位(vs.SCE)所获得的WO3薄膜均匀致密,薄膜的带边在460 nm(≈2.7 eV),其光电转换性能最好;在实验范围内薄膜越厚,其光电转换性能越好。

关 键 词:氧化钨薄膜  电沉积  光催化分解水  光电流光谱(IPCE)

Electro-deposition and characterization of photoelectrochemical properties of WO3 thin films
HAO Jin-ling,JIANG Chun-ping,ZHANG Yan-hui,YANG Xin,KANG Hong,CHEN Jin-wei,LIAN Xiao-juan,LIU Shang-jun,WANG Rui-lin. Electro-deposition and characterization of photoelectrochemical properties of WO3 thin films[J]. Chemical Research and Application, 2010, 22(5)
Authors:HAO Jin-ling  JIANG Chun-ping  ZHANG Yan-hui  YANG Xin  KANG Hong  CHEN Jin-wei  LIAN Xiao-juan  LIU Shang-jun  WANG Rui-lin
Abstract:
Keywords:
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