粉末压片制样-X射线荧光光谱(XRF)法测定钛铁矿中TFe、TiO_2、SiO_2、Al_2O_3、CaO、MgO的含量 |
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作者姓名: | 卜兆杰 王晓旋 黄健强 陶泽秀 寇德翔 |
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作者单位: | 兰州兰石检测技术有限公司;甘肃省机械材料表征与安全评价工程实验室;甘肃省高端铸锻件工程技术研究中心; |
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摘 要: | 以粉末压片法制样,采用X射线荧光光谱(XRF)法测定钛铁矿中TFe、TiO_2、SiO_2、Al_2O_3、CaO、MgO的含量。对样品的矿物效应、样品粒度、分析谱线等条件进行优化。利用不同产地的质控样品制作工作曲线,验证矿物效应影响不大;通过样品粒度小于74μm,很好地解决了颗粒粒度效应的影响。精密度实验表明,待测组分的相对标准偏差均低于3.6%(RSD,n=10),能满足钛铁矿中各组分的测定要求。
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