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| 利用控制图评价X射线荧光光谱法测定铁矿石成分分析系统的稳定性 | |
| 摘 要： | <正>目前,X射线荧光光谱法(XRF)广泛应用于铁矿石中成分分析1-3]。铁矿石杂质元素硅、铝和磷作为主要的计价指标,在铁矿石贸易中具有重要的意义。因此,在实验室日常检测中,需对XRF测定铁矿石杂质成分分析系统进行全面的质量控制,保证分析方法的稳定性和准确性。质量控制图4]可对过程的关键质量特性值进行测定、记录、评估并监测过程是否处于控制状态,已在生产和实验室检测质量控制中得到了广泛的应用5-7]。铁矿石检验多采用 |
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