WnSi02,±(n=1~5)团簇结构与光谱的理论研究 |
| |
引用本文: | 张秀荣,刘小芳,康张李.WnSi02,±(n=1~5)团簇结构与光谱的理论研究[J].原子与分子物理学报,2010,27(5). |
| |
作者姓名: | 张秀荣 刘小芳 康张李 |
| |
摘 要: | 利用密度泛函理论(DFT)在B3LYP/Lanl2dz水平上对WnSi0,2±(n=1~5)团簇的各种可能构型进行了几何结构优化,预测了各团簇的基态结构.并对基态构型的平均结合能、能隙、红外光谱及拉曼光谱进行了系统的理论分析.结果表明:WnSi0,2±(n=2~5)团簇的基态结构及亚稳态结构中的Si-Si原子不成键,W5Si0,2±团簇的基态构型与W7团簇的基态构型相似,W3Si2+团簇的基态构型与W0,5±团簇的基态构型相似;W5Si2-团簇是比较理想的复合材料;WnSi0,2±(n=1~5)团簇的所有IR吸收峰都属于红外光谱中的指纹区的特征吸收区域;除W4Si2-团簇外,其它团簇都具有非刚性特性.
|
关 键 词: | WnSi0 2±团簇 结构与光谱 密度泛函理论 |
本文献已被 万方数据 等数据库收录! |
| 点击此处可从《原子与分子物理学报》浏览原始摘要信息 |
| 点击此处可从《原子与分子物理学报》下载免费的PDF全文 |
|