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| 用紫外光电子能谱研究a-Si_(1-x)C_x:H的价带特性 | |
| 作者姓名： | 张仿清 徐希翔 陈光华 蒋致诚 陈正石 齐尚奎 |
| 作者单位： | 兰州大学物理系(张仿清，徐希翔，陈光华)，中国科学院兰州化学物理研究所(蒋致诚，陈正石)，中国科学院兰州化学物理研究所(齐尚奎) |
| 摘 要： | 用UPS技术获得了GD a-Si_(1-x)C_x:H合金薄膜的价带谱,分析了掺杂和表面氧化对价带谱的影响,并结合XPS,AES等电子能谱测试手段,对这种材料的价电子分布和键合特性作了初步的研究。 |
| 本文献已被 CNKI 等数据库收录！ | |