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电荷补偿对Sr2SiO4:Dy3+材料发射光谱的影响
引用本文:李盼来,王志军,杨志平,郭庆林. 电荷补偿对Sr2SiO4:Dy3+材料发射光谱的影响[J]. 光谱学与光谱分析, 2009, 29(1). DOI: 10.3964/j.issn.1000-0593(2009)01-0244-03
作者姓名:李盼来  王志军  杨志平  郭庆林
作者单位:河北大学物理科学与技术学院,河北,保定,071002;河北大学物理科学与技术学院,河北,保定,071002;河北大学物理科学与技术学院,河北,保定,071002;河北大学物理科学与技术学院,河北,保定,071002
基金项目:国家自然科学基金,河北省科学技术发展基金,河北大学青年基金 
摘    要:采用高温固相反应方法在空气中制备了Sr2SiO4:Dy3+发光材料.在365 nm紫外光激发下,测得Sr2SiO4:Dy3+材料的发射光谱为一多峰宽谱,发射峰分别位于486,575和665 nm处.研究了电荷补偿剂Li+,Na+和K+对Sr2SiO4:Dy3+材料发射光谱强度的影响,结果显示,不同电荷补偿剂下,随电荷补偿剂掺杂浓度的增大,Sr2SiO4:Dy3+材料发射光谱强度的演化趋势相同,即,Sr2SiO4:Dy3+材料发射峰强度先增大后减小,但不同电荷补偿剂下,材料发射峰强度最大处对应的补偿剂浓度不同,对应Li,Na+和K+时,浓度分别为4 mol%,3 mol%和3 mol%.同时,对研究结果进行了理论分析.

关 键 词:Sr2SiO4  Dy3+  发射光谱  Li+  Na+  K+

Effect of Charge Compensation on Emission Spectrum of Sr2 SiO4:Dy3+Phosphor
LI Pan-lai,WANG Zhi-jun,YANG Zhi-ping,GUO Qing-lin. Effect of Charge Compensation on Emission Spectrum of Sr2 SiO4:Dy3+Phosphor[J]. Spectroscopy and Spectral Analysis, 2009, 29(1). DOI: 10.3964/j.issn.1000-0593(2009)01-0244-03
Authors:LI Pan-lai  WANG Zhi-jun  YANG Zhi-ping  GUO Qing-lin
Abstract:
Keywords:Sr2SiO4  Dy3   Li   Na   K
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