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193 nm光刻胶的研制
引用本文:郑金红,黄志齐,陈昕,焦小明,杨澜,文武,高子奇,王艳梅.193 nm光刻胶的研制[J].影像科学与光化学,2005,23(4).
作者姓名:郑金红  黄志齐  陈昕  焦小明  杨澜  文武  高子奇  王艳梅
作者单位:北京化学试剂研究所,北京,100022;北京化学试剂研究所,北京,100022;北京化学试剂研究所,北京,100022;北京化学试剂研究所,北京,100022;北京化学试剂研究所,北京,100022;北京化学试剂研究所,北京,100022;北京化学试剂研究所,北京,100022;北京化学试剂研究所,北京,100022
基金项目:国家高技术研究发展计划(863计划)
摘    要:从主体树脂的结构设计、单体的合成工艺、主体树脂的合成工艺、光致产酸剂的评价、配方研究等多个方面论述了193nm光刻胶的研制工艺,合成出了多种适用的单体及多种结构的主体树脂,进行了大量的配方研究,筛选出了最佳配方.研制出的样品经美国SEMATECH实验室应用评价其最佳分辨率为0.1μm,最小曝光量为26mJ/cm2,不但具有优异的分辨率和光敏性,而且还具有良好的粘附性和抗干法腐蚀性.

关 键 词:193  nm  光刻胶  单体  主体树脂  光致产酸剂  配方

The Study of 193 nm Photoresist
ZHENG Jin-hong,HUANG Zhi-qi,CHEN Xin,JIAO Xiao-ming,YANG Lan,WEN Wu,GAO Zi-qi,WANG Yan-mei.The Study of 193 nm Photoresist[J].Imaging Science and Photochemistry,2005,23(4).
Authors:ZHENG Jin-hong  HUANG Zhi-qi  CHEN Xin  JIAO Xiao-ming  YANG Lan  WEN Wu  GAO Zi-qi  WANG Yan-mei
Abstract:
Keywords:193 nm  photoresist  monomer  matrix resin  photo-acid generator  formulation
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