电子散斑干涉技术在小试件无损检测中的应用研究

无损检测诊断技术是一门新型的综合性应用学科。随着微电子学和计算机技术等现代科学技术的飞速发展，无损检测诊断技术也得到迅速发展。以激光为光源的光学无损检测是一种新的检测方法，电子散斑干涉技术（ESPI：Electronic Speckle Pattern Intefferometry）是计算机图象处理技术、激光技术以及全息干涉技术相结合的一种新技术。由于ESPI既可直接应用于实际工程材料及构件，又可以现场给出全场的位移，在无损检测领域获得越来越多的重视。本文选用具有较好光洁度的小型试样作为研究对象，用ESPI装置对小型试样作无损检测，实现了光洁试样表面微小裂纹检测。研究表明系统在无损检测方面具有较高的利用价值，为小器件的安全检测提供了一种光学测试手段。