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| X-射线荧光光谱分析中粉末制样误差的Monte Carlo研究 | |
| 引用本文： | 陈亮,赵新那,罗重庆.X-射线荧光光谱分析中粉末制样误差的Monte Carlo研究[J].分析化学,1986(9). |
| 作者姓名： | 陈亮 赵新那 罗重庆 |
| 作者单位： | 中南工业大学化学系 长沙 |
| 摘 要： | 粉末压片制样方法,简便快速,无需昂贵的铂-黄金坩埚,在XRF分析中一直被广泛地应用。R.P.Gardner等人用一种统一的推导方法概述了前人所建立的各种XRF强度与粉末粒度、压紧率(packing fraction)之间的数学关系。对分析工作者所关心的另一重要问题-粉末制样误差与粒度等因素的关系,国内外尚未见有深入研究报告,本文用Monte Carlo方法对此作一初步探讨。一.模型假设(参见图1) (1)样品具有相对于X-射线穿透深度而言的无限厚度和无限截面积,且仅由对X-射 |
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