| 膜去溶-ICP-MS测定高纯CeO2中14种痕量稀土杂质分析方法研究 |
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| 引用本文： | 韩国军,伍星,童坚. 膜去溶-ICP-MS测定高纯CeO2中14种痕量稀土杂质分析方法研究[J]. 中国稀土学报, 2009, 27(1) |
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| 作者姓名： | 韩国军 伍星 童坚 |
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| 作者单位： | 北京有色金属研究总院分析测试技术研究所,北京,100088 |
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| 基金项目： | 科技部科研用核心单元物质及共性关键技术的研制与开发项目 |
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| 摘 要： | 研究了不经基体分离, 膜去溶-ICP-MS法直接测定高纯CeO2中14种痕量稀土杂质的分析方法, 讨论了Ce基体产生的多原子离子对被测元素的质谱干扰, 并且对影响多原子离子产率的因素进行了分析, 同时建立了Pr, Gd, Tb和Yb数学校正方程. 通过使用膜去溶雾化器和优化ICP-MS参数, 消除了CeH+, CeO2+和CeO2H+产生的质谱干扰, 将CeO/Ce产率降为0.008%, 同时结合数学校正方程彻底消除了CeO+, CeOH+和CeOH2+的质谱干扰. Pr, Gd, Tb和Yb的方法测定下限分别为0.08, 0.1, 0.15和0.008 μg · g-1, 14种稀土杂质方法测定下限和为0.75 μg · g-1. 99.999%高纯CeO2实际样品测定加标回收率为96%～103%, RSD为 1.2%～4.3%.
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| 关 键 词： | 高纯CeO2 膜去溶 数学校正 多原子离子干扰 稀土 |
Determination of 14 Trace Rare Earth Impurities in High-Purity CeO2 by Inductively Coupled Plasma Mass Spectrometry with Membrane Desolvation |
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| Han Guojun,Wu Xing,Tong Jian. Determination of 14 Trace Rare Earth Impurities in High-Purity CeO2 by Inductively Coupled Plasma Mass Spectrometry with Membrane Desolvation[J]. Journal of the Chinese Society of Rare Earths, 2009, 27(1) |
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| Authors: | Han Guojun Wu Xing Tong Jian |
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| Abstract: | |
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| Keywords: | ICP-MS |
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