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Bi2O3掺杂对Ag(Nb0.8Ta0.2)O3陶瓷结构和介电性能的影响
引用本文:肖谧,杨朝,钟小蓉,席芳芳.Bi2O3掺杂对Ag(Nb0.8Ta0.2)O3陶瓷结构和介电性能的影响[J].无机化学学报,2013,29(18).
作者姓名:肖谧  杨朝  钟小蓉  席芳芳
作者单位:天津大学电子信息工程学院, 天津 300072;天津大学电子信息工程学院, 天津 300072;天津大学电子信息工程学院, 天津 300072;天津大学电子信息工程学院, 天津 300072
摘    要:本文研究了Bi2O3掺杂对Ag(Nb0.8Ta0.2)O3陶瓷的结构和介电性能的影响。X射线衍射(XRD)结果表明,Bi2O3的掺杂可以使陶瓷中Ag+被还原并析出,且银析出的量随Bi2O3掺杂量的增加而不断增加,这可能源自于Bi3+对Ag+的取代。在一定范围内增大Bi2O3掺杂量可提高Ag(Nb0.8Ta0.2)O3陶瓷的室温介电常数,降低介电损耗,并使温度系数向负值方向移动。当Bi2O3的掺杂量约为3.5wt%时,样品具有较大的介电常数(ε=672)和较小的介电损耗(tanδ=7.3×10-4)。

关 键 词:ANT  Bi2O3  掺杂  Ag析出  高介电常数
收稿时间:7/3/2013 12:00:00 AM

Influence of Bi2O3 on the Structure and Dielectric Properties of Ag(Nb0.8Ta0.2)O3 Ceramics
XIAO Mi,YANG Zhao,ZHONG Xiao-Rong and XI Fang-Fang.Influence of Bi2O3 on the Structure and Dielectric Properties of Ag(Nb0.8Ta0.2)O3 Ceramics[J].Chinese Journal of Inorganic Chemistry,2013,29(18).
Authors:XIAO Mi  YANG Zhao  ZHONG Xiao-Rong and XI Fang-Fang
Institution:School of Electronic Information Engineering, Tianjin University, Tianjin 300072, China;School of Electronic Information Engineering, Tianjin University, Tianjin 300072, China;School of Electronic Information Engineering, Tianjin University, Tianjin 300072, China;School of Electronic Information Engineering, Tianjin University, Tianjin 300072, China
Abstract:
Keywords:ANT  Bi2O3  doping  Ag precipitation  high dielectric constant
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