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| 考虑性能退化的IGBT模块可靠性度量模型 | |
| 引用本文： | 李玲玲,孙进,张鑫保.考虑性能退化的IGBT模块可靠性度量模型[J].半导体技术,2018,43(12):930-935. |
| 作者姓名： | 李玲玲 孙进 张鑫保 |
| 作者单位： | 河北工业大学省部共建电工装备可靠性与智能化国家重点实验室,天津 300130;河北工业大学河北省电磁场与电器可靠性重点实验室,天津 300130;河北工业大学省部共建电工装备可靠性与智能化国家重点实验室,天津 300130;河北工业大学河北省电磁场与电器可靠性重点实验室,天津 300130;河北工业大学省部共建电工装备可靠性与智能化国家重点实验室,天津 300130;河北工业大学河北省电磁场与电器可靠性重点实验室,天津 300130 |
| 摘 要： | |
| 关 键 词： | IGBT模块 加速老化试验 Gamma分布 广义应力-强度干涉模型 可靠性度量 |
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