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| 三水平U-型设计在对称化L_(2-)偏差下的下界 | |
| 作者姓名： | 雷轶菊 欧祖军 |
| 作者单位： | 新乡学院数学与信息科学学院;吉首大学数学与统计学院; |
| 摘 要： | 均匀试验设计是部分因子设计的主要方法之,已被广泛地应用于工业生产、系统工程、制药及其他自然科学中.各种偏差被用来度量部分因子设计的均匀性.不管使用哪种偏差,关键的问题是寻找一个精确的偏差下界,因为它可以作为衡量设计均匀性的标准.本文应用条件极值的方法得到了三水平U-设计在对称化L_(2-)偏差下的下界,该下界可作为寻找均匀设计的一个基准. |
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