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| MOS-XY扫描器与CCD成像器的比较 | |
| 引用本文： | 吴珊.MOS-XY扫描器与CCD成像器的比较[J].应用光学,1993(6). |
| 作者姓名： | 吴珊 |
| 摘 要： | 光谱探测器广泛用于金属-氧化物-半导体 X-Y(MOS-XY)扫描器和基于电荷耦合器件(CCD)的成像器。70年代研制的 MOS-XY 探测器可从多光电二极管元件中产生一系列输出。MOS-XY 技术的制作成本低且产量很高。MOS-XY 器件的主要缺点是探测器的噪声,其噪声在1000个噪声-等效光子范围(信噪比达到1时的光子信号电平)内。高噪声电平是由连接到所有光电二极管的大电容总线产生的。 |
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