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硅集成电路和平面器件的常规管式炉快速合金化
作者姓名:陈存礼  彭辉  李联珠
作者单位:南京大学物理系(陈存礼,彭辉),南京大学物理系(李联珠)
摘    要:本文报导了一种用30秒钟的快速合金化代替常规热合金化实现Al-Si欧姆接触的简捷方法.该法能有效地抑制导致浅结器件失效的Al-Si互扩散现象,工艺简单,效果良好,节电,省时、时间比常现热合金化缩短40倍.

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