H_2O的表面增强Raman散射效应——在高浓度的ClO_4~-体系 |
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引用本文: | 田中群,林图强,连渊智.H_2O的表面增强Raman散射效应——在高浓度的ClO_4~-体系[J].中国科学B辑,1990(3). |
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作者姓名: | 田中群 林图强 连渊智 |
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作者单位: | 厦门大学化学系,厦门大学化学系,厦门大学化学系 厦门 361005,厦门 361005,厦门 361005 |
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基金项目: | 国家教委优秀青年教师基金 |
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摘 要: | 采用可有效破坏H_2O分子间氢键的高浓度的ClO_4~-为主要支持电解质,在比通常低数十倍浓度的卤素离子体系中可获得很强的H_2O的表面增强Raman散射(SERS)信号,并可在含SCN~-体系中观察到H_2O的SERS现象。在0.1mol/LLiCl和3mol/L LiClO_4体系中的SERS谱表明电极表面上存在两种性质十分不同的H_2O分子,文中较详细地讨论这一异常现象。采用合适的电解质和电极表面处理可扩展对H_2O的SERS研究,更深入认识电化学界面的复杂结构。
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关 键 词: | 表面增强 Raman散射 H_2O_2 电化学 |
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