| YBCO薄膜热稳定性和微结构的关系研究 |
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| 引用本文： | 蔡衍卿,姚忻,李刚,饶群力.YBCO薄膜热稳定性和微结构的关系研究[J].低温物理学报,2005,27(Z1):623-628. |
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| 作者姓名： | 蔡衍卿 姚忻 李刚 饶群力 |
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| 作者单位： | 上海交通大学理学院物理系,上海,200240 |
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| 基金项目： | 中国科学院资助项目，新材料领域项目 |
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| 摘 要： | 我们已报道过YBa2Cu3O7-δ(YBCO)的过热现象并且对其过热的机制进行了研究1～2] .在本文的工作中,主要研究了YBCO薄膜的微结构对于其过热行为的影响.通过高温金相显微镜对具有不同微结构的YBCO薄膜的不同的熔化行为进行了实时观测,并且用原子力显微镜(AFM)和X射线衍射仪(XRD)对这些具有不同品质的薄膜进行表征.结果表明, YBCO薄膜的微结构对于其过热度以及整个薄膜熔化的过程有很大的影响,高品质的薄膜具有低界面缺陷比率,由此导致了其在熔化过程中较高的过热度.本文同时在实时观测,AFM和XRD所得到实验结果的基础上,通过半共格界面能的理论很好的解释了YBCO薄膜在不同的微结构情况下体现出来熔化和过热行为的差异.
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| 关 键 词： | 钇钡铜氧薄膜 过热度 结晶品质 半共格界面 界面缺陷 |
| 修稿时间： | 2005年3月30日 |
MICROSTRUCTURE OF YBCO THIN FILM AND ITS EFFECT ON SUPERHEATING |
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| CAI YAN-QING,YAO XI,LI GANG,RAO QUN-LI.MICROSTRUCTURE OF YBCO THIN FILM AND ITS EFFECT ON SUPERHEATING[J].Chinese Journal of Low Temperature Physics,2005,27(Z1):623-628. |
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| Authors: | CAI YAN-QING YAO XI LI GANG RAO QUN-LI |
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