Spark source mass spectrometry in the research laboratories of an electronic industry |
| |
Authors: | J. A. J. Jansen and A. W. Witmer |
| |
Affiliation: | (1) Philips Res. Lab., NL-5600 MD Eindhoven, The Netherlands |
| |
Abstract: | Summary Spark-source mass spectrometry is suitable for qualitative and quantitative analysis of inorganic materials. 83 elements can be determined with detection limits down to the ppb-range. With this method a wide range of bulk and thin-layer materials has been succesfully analysed in the Philips Research Laboratories. Some new developments of solid state mass spectrometry are discussed.
Hochfrequenzfunken-Massenspektrometrie im Forschungslaboratorium eines Unternehmens der Elektronik-Industrie Zusammenfassung Die Hochfrequenzfunken-Massenspektrometrie eignet sich zur qualitativen und quantitativen Analyse von anorganischen Materialien. 83 Elemente können mit Nachweisgrenzen bis in den ppb-Bereich bestimmt werden. In den Philips-Forschungslaboratorien wurde mit dieser Technik eine große Vielfalt von Bulk- und Dünnschicht-Materialien mit gutem Erfolg analysiert. Einige neue Entwicklungen der Festkörper-Massenspektrometrie werden besprochen. |
| |
Keywords: | Best. von Kohlenstoff, Stickstoff, Sauerstoff Massenspektrometrie, Funken Spurenü bersichtsanalyse, Dü nnschichtanalyse, Laserionenquelle |
本文献已被 SpringerLink 等数据库收录! |