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衬底温度对MOCVD-ZnO薄膜特性的影响
引用本文:孙小虎,雷青松,曾祥斌,薛俊明,鞠洪超,陈阳洋.衬底温度对MOCVD-ZnO薄膜特性的影响[J].人工晶体学报,2012,41(6):1494-1497.
作者姓名:孙小虎  雷青松  曾祥斌  薛俊明  鞠洪超  陈阳洋
作者单位:华中科技大学电子科学与技术系,武汉,430074;河北汉盛光电科技有限公司,衡水,053000
摘    要:利用金属有机物化学气相沉积(MOCVD)生长技术,制备本征ZnO薄膜,并研究薄膜的结构、形貌及光电等性能.结果表明:衬底温度对ZnO薄膜的微观结构、电学、光学及表面形貌等有显著影响.在衬底温度为180℃时获得电阻率为2.17×10-2Ω·cm.平均透过率为85;的低电阻、高透过率、结晶质量高、表面呈绒面结构的本征ZnO薄膜.对本征ZnO薄膜进一步掺杂和结构优化有望用于硅薄膜太阳能电池的前电极.

关 键 词:MOCVD  绒面ZnO薄膜  衬底温度  太阳电池  

Influence of Substrate Temperature on the Properties of ZnO Thin Films Grown by MOCVD Technique
SUN Xiao-hu , LEI Qing-song , ZENG Xiang-bin , XUE Jun-ming , JU Hong-chao , CHEN Yang-yang.Influence of Substrate Temperature on the Properties of ZnO Thin Films Grown by MOCVD Technique[J].Journal of Synthetic Crystals,2012,41(6):1494-1497.
Authors:SUN Xiao-hu  LEI Qing-song  ZENG Xiang-bin  XUE Jun-ming  JU Hong-chao  CHEN Yang-yang
Institution:1(1.Department of Electronic Science and Technology,Huazhong University of Science and Technology,Wuhan 430074,China; 2.Hisun PV TECH,Hengshui 053000,China)
Abstract:
Keywords:
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