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光学石英晶体条纹缺陷表征
引用本文:张绍锋,张璇,刘巨澜,孙志文,刘小丰. 光学石英晶体条纹缺陷表征[J]. 人工晶体学报, 2012, 41(6): 1578-1580
作者姓名:张绍锋  张璇  刘巨澜  孙志文  刘小丰
作者单位:烁光特晶科技有限公司,北京,100018
摘    要:本文对光学石英晶体进行辐照,将通常仅在脉理仪下才能呈现的条纹缺陷着色,加以观察和分析.对比辐照后条纹形貌和脉理仪下观察图样,确定辐照可以使条纹缺陷呈现;通过辐照后的着色机理,确定条纹缺陷是由杂离子在晶格中造成的形变产生;通过对比无条纹缺陷区域和条纹缺陷区域化学成分,确定进入晶格的Al3+是引起人造光学石英晶体中条纹缺陷的主要原因.

关 键 词:石英  条纹  辐照,

Analysis of Radiated Striae in Quartz Crystal
ZHANG Shao-feng , ZHANG Xuan , LIU Ju-lan , SUN Zhi-wen , LIU Xiao-feng. Analysis of Radiated Striae in Quartz Crystal[J]. Journal of Synthetic Crystals, 2012, 41(6): 1578-1580
Authors:ZHANG Shao-feng    ZHANG Xuan    LIU Ju-lan    SUN Zhi-wen    LIU Xiao-feng
Affiliation:(Bright Crystals Technology Incorporation,Beijing 100018,China)
Abstract:
Keywords:
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