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含Ni-Nb阻挡层的硅基Pb(Zr0.4,Ti0.6)O3电容器的制备及铁电性能研究
引用本文:赵庆勋,齐晨光,贾冬梅,付跃举,郭建新,刘保亭.含Ni-Nb阻挡层的硅基Pb(Zr0.4,Ti0.6)O3电容器的制备及铁电性能研究[J].人工晶体学报,2013(2):282-285.
作者姓名:赵庆勋  齐晨光  贾冬梅  付跃举  郭建新  刘保亭
作者单位:河北大学物理科学与技术学院
基金项目:国家自然科学基金(11074063);河北省应用基础研究计划重点项目(10963525D);高等学校博士点基金(20091301110002);河北省自然科学基金(E2011201092)
摘    要:采用Ni-Nb薄膜作为导电阻挡层,以La0.5Sr0.5CoO3(LSCO)为底电极,构建了LSCO/Pb(Zr0.4,Ti0.6)O3(PZT)/LSCO异质结电容器。使用X射线衍射仪和铁电测试仪对其进行结构表征和性能测试。实验发现:Ni-Nb薄膜为非晶结构,PZT薄膜结晶状况良好。LSCO/PZT/LSCO电容器在5 V外加电压测试下,电滞回线具有良好的饱和趋势,剩余极化强度Pr为35.5μC/cm2,矫顽电压Vc为1.42 V,电容器具有良好的抗疲劳特性和保持特性。

关 键 词:Ni-Nb阻挡层  Pb(Zr0.4  Ti0.6)O3  La0.5Sr0.5CoO3

Preparation and Ferroelectric Properties of Si-based Pb(Zr0.4,Ti0.6)O3 Capacitor Using Ni-Nb as the Barrier Layer
ZHAO Qing-xun,QI Chen-guang,JIA Dong-mei,FU Yue-ju,GUO Jian-xin,LIU Bao-ting.Preparation and Ferroelectric Properties of Si-based Pb(Zr0.4,Ti0.6)O3 Capacitor Using Ni-Nb as the Barrier Layer[J].Journal of Synthetic Crystals,2013(2):282-285.
Authors:ZHAO Qing-xun  QI Chen-guang  JIA Dong-mei  FU Yue-ju  GUO Jian-xin  LIU Bao-ting
Institution:(College of Physics Science and Technology,Hebei University,Baoding 071002,China)
Abstract:
Keywords:
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