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| 全扫描结构在MCU设计中的应用 | |
| 引用本文： | 刘文峰.全扫描结构在MCU设计中的应用[J].电子设计应用,2007(4):85-86. |
| 作者姓名： | 刘文峰 |
| 作者单位： | 成都电子科技大学微电子与固体电子学院 |
| 摘 要： | 本文在8位RISC MCU设计实例中用Synopsys公司的DFT Compiler进行全扫描设计,在此基础上,总结出了在复杂芯片中进行扫描链插入时所遇到的普遍性问题,并提出了相应的解决方法。 |
| 关 键 词： | 可测性设计 全扫描 MCU |
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