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贴片电阻表面缺陷自动识别方法
引用本文:何萍,文继权,赵明宣. 贴片电阻表面缺陷自动识别方法[J]. 光子学报, 2013, 42(6)
作者姓名:何萍  文继权  赵明宣
作者单位:1. 包头职业技术学院电气工程系,内蒙古包头,014030
2. 大连海洋大学职业技术学院,辽宁大连,116300
3. 哈尔滨工业大学机电工程学院,哈尔滨,150080
基金项目:国家高技术研究发展计划
摘    要:贴片电阻生产过程中的缺陷主要依靠人工在显微镜下检测,速度慢、长期成本高、误检率高.针对贴片电阻单元具有排列整齐、结构简单、图像灰度级少的特点,在贴片电阻图像二值化、边缘提取、直线检测基础上,以相邻电阻单元的相关系数作为电阻缺陷判别依据,提出基于子图投影匹配的快速缺陷检测方法.采用主分量分析法压缩图像数据量,提取缺陷特征,以基于支持向量机对贴片电阻缺陷进行分类并建立实验系统.缺陷检测及识别实验表明,缺陷检测正确率为92.5oo,算法的快速性和识别准确度满足系统快速高精的要求.

关 键 词:缺陷检测  子图投影匹配  缺陷识别  主分量分析  支持向量机

A Method of Automatic Surface Mounted Device Resistor Defect Detection
HE Ping , WEN Ji-quan , ZHAO Ming-xuan. A Method of Automatic Surface Mounted Device Resistor Defect Detection[J]. Acta Photonica Sinica, 2013, 42(6)
Authors:HE Ping    WEN Ji-quan    ZHAO Ming-xuan
Abstract:
Keywords:Defect detection  Subgraph matching projection  Defect recognition  Principal Component Analysis (PCA)  Support Vector Machine (SVM)
本文献已被 万方数据 等数据库收录!
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