X射线荧光光谱法测定硅酸盐岩石中主次量成分结果异常时的质量控制北大核心CSCD |
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作者姓名: | 林桂芝 |
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作者单位: | 核工业二三〇研究所分析测试中心,咸阳 712000 |
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摘 要: | 硅酸盐岩石样品的主次量成分分析(业内俗称硅酸盐成分全分析)是地质工作的重要内容。通过监测岩石内部成分含量的变化,可以了解相应元素在地壳内的迁移情况和变化规律、元素的集中和分散情况、岩浆的来源及可能出现的矿物相,可进一步解决矿体岩相分带、阐明岩石成因等问题;并且硅酸盐岩石主次量成分的含量是矿物定名时的重要依据[1]。因此,选择能准确测定硅酸盐主次量成分含量的方法非常重要。
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关 键 词: | X射线荧光光谱法 硅酸盐岩石 主次量成分 集中和分散 矿物相 准确测定 迁移情况 结果异常 |
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