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X射线荧光光谱法测定硅酸盐岩石中主次量成分结果异常时的质量控制北大核心CSCD
引用本文:林桂芝.X射线荧光光谱法测定硅酸盐岩石中主次量成分结果异常时的质量控制北大核心CSCD[J].理化检验(化学分册),2022,58(2):216-219.
作者姓名:林桂芝
作者单位:核工业二三〇研究所分析测试中心,咸阳 712000
摘    要:硅酸盐岩石样品的主次量成分分析(业内俗称硅酸盐成分全分析)是地质工作的重要内容。通过监测岩石内部成分含量的变化,可以了解相应元素在地壳内的迁移情况和变化规律、元素的集中和分散情况、岩浆的来源及可能出现的矿物相,可进一步解决矿体岩相分带、阐明岩石成因等问题;并且硅酸盐岩石主次量成分的含量是矿物定名时的重要依据1]。因此,选择能准确测定硅酸盐主次量成分含量的方法非常重要。

关 键 词:X射线荧光光谱法  硅酸盐岩石  主次量成分  集中和分散  矿物相  准确测定  迁移情况  结果异常
本文献已被 维普 万方数据 等数据库收录!
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