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K_(0.5)Bi_(0.5)TiO_3—Na_(0.5)Bi_(0.5)TiO_3系统铁电陶瓷相界的X射线研究
引用本文:郭常霖,吴毓琴,王天宝.K_(0.5)Bi_(0.5)TiO_3—Na_(0.5)Bi_(0.5)TiO_3系统铁电陶瓷相界的X射线研究[J].物理学报,1982(8).
作者姓名:郭常霖  吴毓琴  王天宝
作者单位:中国科学院上海硅酸盐研究所 (郭常霖,吴毓琴),中国科学院上海硅酸盐研究所(王天宝)
摘    要:用X射线衍射方法测定了K_(0.5)Bi_(0.5)TiO_3-Na(0.5)Bi_(0.5)TiO_3系统不同组分试样的点阵常数和相变温度,确定了四方-三方相界组成。给出了K_(0.5)Bi_(0.5)TiO_3和Na_(0.5)Bi_(0.5)TiO_3的多晶X射线衍射数据。

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