| 反平面剪切状态下压电-压磁夹层结构的圣维南端部效应 |
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| 引用本文： | 薛雁, 刘金喜. 反平面剪切状态下压电-压磁夹层结构的圣维南端部效应[J]. 固体力学学报, 2010, 31(4): 353-362. |
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| 作者姓名： | 薛雁 刘金喜 |
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| 作者单位： | 北京交通大学工程力学所,北京,100044;石家庄铁道大学工程力学系,石家庄,050043;石家庄铁道大学工程力学系,石家庄,050043 |
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| 基金项目： | 国家自然科学基金资助项目 |
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| 摘 要： | 研究了反平面状态下压电-压磁夹层结构的圣维南端部效应的衰减特征.夹层结构端部的力-电-磁载荷是自平衡的;外层的边界是应力自由的,但承受四种不同的电磁边界条件,即电学短路/磁学短路、电学短路/磁学开路、电学开路/磁学开路和电学开路/磁学短路.基于磁电弹全耦合的控制方程,推导了问题的精确解和关于衰减率的特征方程.利用得到的特征方程,计算了压电-压磁-压电和压磁-压电-压磁两种夹层结构的衰减率,结果表明电磁边界条件、压电层的材料性能和体积分数对衰减特征有显著的影响.作为特例,分析了压电-弹性-压电夹层结构的衰减特征.
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| 关 键 词： | 圣维南原理 衰减率 端部效应 压电材料 压磁材料 夹层结构 |
| 收稿时间： | 2008-10-23 |
SAINT-VENANT END EFFECT FOR ANTI-PLANE DEFORMATIONS OF PIEZOELECTRIC-PIEZOMAGNETIC SANDWICH STRUCTURES |
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| SAINT-VENANT END EFFECT FOR ANTI-PLANE DEFORMATIONS OF PIEZOELECTRIC-PIEZOMAGNETIC SANDWICH STRUCTURES[J]. Chinese Journal of Solid Mechanics, 2010, 31(4): 353-362. |
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| Authors: | Yan Xue Jinxi Liu |
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| Abstract: | The decay rates of the Saint-Venant end effects of the Sandwich structures composed of the piezoelectric or piezomagnetic material are studied. The main aim is to discover the effect of the boundary conditions and material properties on the decay character. The results show that the piezoelectric and peozomagnetic properties and boundary conditions have obvious effects on the decay rates of the end effects. |
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