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反应溅射法制备高透明导电ZnO薄膜的研究
引用本文:谢挺,祝柏林,杨玉婷,张俊峰,龙晓阳,吴隽.反应溅射法制备高透明导电ZnO薄膜的研究[J].人工晶体学报,2016,45(3):711-717.
作者姓名:谢挺  祝柏林  杨玉婷  张俊峰  龙晓阳  吴隽
作者单位:武汉科技大学,省部共建耐火材料与冶金国家重点实验室,武汉430081;武汉科技大学,省部共建耐火材料与冶金国家重点实验室,武汉430081;华中科技大学,材料成形与模具技术国家重点实验室,武汉430074
基金项目:材料成形与模具技术国家重点实验室开放基金课题(P2014-06)
摘    要:利用Zn/ZnO复合靶材,通过射频磁控溅射技术,在衬底温度为150℃时分别在Ar+O2和Ar+H2的混合气氛中制备ZnO薄膜,通过干涉显微镜、XRD、Hall效应测试仪、紫外-可见分光光度计研究了O2和H2流量对薄膜结构及透明导电性能的影响.结果发现,薄膜厚度随O2流量增加而明显增加而随H2流量增加呈下降趋势.只有通入合适流量的O2或H2,薄膜才能保持(002)择优取向、较高的结晶度以及较小的压应力,同时在薄膜中形成高浓度Vo和/或Hi等缺陷,因此有效降低ZnO薄膜的电阻率,并保持高的透光率,从而改善ZnO薄膜透明导电性能.当前研究中,当O2和H2流量分别为0.4 sccm和2.0 sccm时,得到的最低电阻率分别为6.33×10-3和2.51×10-3Ω·cm,平均透光率均大约为81.5;,相应的最高品质因子分别为1.04×10-3和1.29×10-3 Ω-1.

关 键 词:Zn/ZnO复合靶  反应溅射  气体流量  ZnO薄膜  结晶度  透明导电性  

Study on Highly Transparent Conductive ZnO Thin Films Deposited by Reactive Magnetron Sputtering Method
XIE Ting,ZHU Bai-lin,YANG Yu-ting,ZHANG Jun-feng,LONG Xiao-yang,WU Jun.Study on Highly Transparent Conductive ZnO Thin Films Deposited by Reactive Magnetron Sputtering Method[J].Journal of Synthetic Crystals,2016,45(3):711-717.
Authors:XIE Ting  ZHU Bai-lin  YANG Yu-ting  ZHANG Jun-feng  LONG Xiao-yang  WU Jun
Abstract:
Keywords:Zn/ZnO composite target  reactive sputtering  gas flux  ZnO thin film  crystallinity  transparent conductive properties
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