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责任编辑
分类号
杂志ISSN号
一种高纯有机物纯度的测定方法——熔点下降薄层比较法
作者姓名:
贾瑞华
张大建
作者单位:
天津市计量技术研究所 300192(贾瑞华),天津市计量技术研究所 300192(张大建)
摘 要:
介绍了熔点下降薄层比较法的原理、计算方法和测量时需注意的问题。熔点下降薄层比较法测定纯度具有可靠的热力学基础,改进的Smit装置测温准确可靠,测定的纯度具有溯源性。
关 键 词:
熔点下降薄层比较法
高纯有机物
纯度
Smit装置
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