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| 光电导材料硒、砷、碲的X射线荧光光谱测定 | |
| 引用本文： | 袁宁儿,吉昂.光电导材料硒、砷、碲的X射线荧光光谱测定[J].分析试验室,1988(8). |
| 作者姓名： | 袁宁儿 吉昂 |
| 作者单位： | 中国科学院上海硅酸盐研究所，中国科学院上海硅酸盐研究所 |
| 摘 要： | 采用溶液-滤纸片法制样,工作曲线归一化消除制样过程中因温度、溶液用量及纸源等不同引起的误差,使X射线荧光光谱法测定Se(70—95％)、As(1—7％)、Te(4—18％)光电导材料的平均相对偏差分别为±0.1％,±1％及±0.5％。试样分析结果与化学法吻合。标准系列的制备以5mg/mL的单一标准溶液(酸度为3.0mol/L HNO_3)按表1百分含量配制一系列混合标准溶液,使每毫升该试液含Se、As、Te总量为4毫克。取上述混合标准溶液0.5毫升滴加在φ50毫米中速定量滤纸上(滤纸予先铺放在平板玻璃 |
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