微电子测试领域的新突破——介绍两种新颖的测试方法 |
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引用本文: | 丁天祥.微电子测试领域的新突破——介绍两种新颖的测试方法[J].电子工业专用设备,2001,30(1):62-63. |
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作者姓名: | 丁天祥 |
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作者单位: | |
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摘 要: | TZ-601自动探针测试台是我公司新研发的高性价比的中测设备。它具有分辨率高,运行速度快等优点,某些技术指标超过了国外同类产品,同时,为了使该设备更具市场竞争力,我公司技术人员在多年开发探针设备经验的基础上,创造性地研制出2种新颖的测试方法,即编辑测试法和圆片测试法,减轻了用户的操作之繁,使该设备的性能更上一个台阶。
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关 键 词: | 微电子测试 编辑测试方法 图片测试法 |
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