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YBa2Cu3O7-x涂层导体的外延生长和性能对CeO2缓冲层的依赖性
引用本文:李美亚,汪晶,刘军,于本方,郭冬云,赵兴中. YBa2Cu3O7-x涂层导体的外延生长和性能对CeO2缓冲层的依赖性[J]. 物理学报, 2008, 57(5)
作者姓名:李美亚  汪晶  刘军  于本方  郭冬云  赵兴中
基金项目:教育部留学回国人员科研启动基金
摘    要:利用倾斜衬底沉积法在无织构的金属衬底上生长了MgO双轴织构的模板层,在这一模板层上实现了YBa2Cu3O7-x薄膜的外延生长.在外延YBa2Cu3O7-x薄膜前,依次沉积了钇稳定的立方氧化锆和CeO2作为缓冲层.利用X射线衍射2θ扫描、φ扫描、Ω扫描和极图分析测定了这些膜的结构和双轴织构取向,利用Raman光谱表征了其超导相的品质和取向特性,利用扫描电镜和原子力显微镜观测了薄膜的表面形貌和粗糙度.考察了不同厚度的CeO2层对YBa2Cu3O7-x生长和性质的影响.发现了YBa2Cu3O7-x薄膜的外延生长和性能对CeO2的不同厚度具有显著而独特依赖性.讨论了其可能的机理.

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Dependence of growth and property of YBa2Cu3O7-x coated conductors on the thickness of CeO2 buffer layer
Li Mei-Ya,Wang Jing,Liu Jun,Yu Ben-Fang,Guo Dong-Yun,Zhao Xing-Zhong. Dependence of growth and property of YBa2Cu3O7-x coated conductors on the thickness of CeO2 buffer layer[J]. Acta Physica Sinica, 2008, 57(5)
Authors:Li Mei-Ya  Wang Jing  Liu Jun  Yu Ben-Fang  Guo Dong-Yun  Zhao Xing-Zhong
Abstract:
Keywords:
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