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范德堡方法在ZnO薄膜测试中的应用
引用本文:朱俊杰,刘磁辉,林碧霞,谢家纯,傅竹西. 范德堡方法在ZnO薄膜测试中的应用[J]. 发光学报, 2004, 25(3): 317-319
作者姓名:朱俊杰  刘磁辉  林碧霞  谢家纯  傅竹西
作者单位:中国科学技术大学,物理系;中国科学技术大学,物理系;中国科学院结构分析重点实验室,安徽,合肥,230026
基金项目:国家自然科学基金 ( 10 1740 72,5 0 14 2 0 6),国家自然科学基金重点项目 ( 90 2 0 10 3 8)资助项目
摘    要:近年来,随着对宽禁带半导体材料,氧化锌薄膜研究的快速发展,对其电学性质的研究也显得尤为重要。主要介绍范德堡方法在ZnO薄膜电学性质测量中的应用,并对初步测量结果作简要的讨论。

关 键 词:范德堡方法  ZnO膜薄  欧姆接触  霍尔效应
文章编号:1000-7032(2004)03-0317-03
修稿时间:2003-03-18

Van der Pauw Method in the Test of ZnO Film
ZHU Jun jie ,LIU Ci hui ,LIN Bi xia ,,XIE Jia chun ,FU Zhu xi . Van der Pauw Method in the Test of ZnO Film[J]. Chinese Journal of Luminescence, 2004, 25(3): 317-319
Authors:ZHU Jun jie   LIU Ci hui   LIN Bi xia     XIE Jia chun   FU Zhu xi
Affiliation:ZHU Jun jie 1,LIU Ci hui 1,LIN Bi xia 1,2,XIE Jia chun 2,FU Zhu xi 1,2
Abstract:
Keywords:Van der Pauw  ZnO film  ohmic contact  Hall effect
本文献已被 CNKI 维普 万方数据 等数据库收录!
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