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上海光源储存环束流托歇克寿命研究
引用本文:姜伯承,赵振堂,刘桂民.上海光源储存环束流托歇克寿命研究[J].中国物理 C,2006,30(7):693-698.
作者姓名:姜伯承  赵振堂  刘桂民
作者单位:[1]中国科学院上海原子核研究所,上海201800 [2]中国科学院研究生院,北京100049
基金项目:上海市光源工程资助项目
摘    要:上海同步辐射装置(SSRF)是目前在建的第3代专用同步辐射光源. 其储存环电子能量3.5GeV, 设计束团发射度3.9nm?rad. 托歇克寿命将是影响束流寿命的最主要因素, 它主要受限于储存环的能量接受度. 储存环的能量接受度不但取决于 高频电压, 同时也受动力学孔径和物理孔径的影响. 因此能量接受度的计算将是复杂的. 通过计算机模拟跟踪的方法计算储存环各点的能量接受度, 其程序是建立在Accelerator Toolbox(AT)基础上的自编程序. 通过这些能量接受度数据给出更加准确的托歇克寿命, 并且分析了感兴趣的不同运行条件下的托歇克寿命的变化情况.

关 键 词:上海光源  托歇克寿命  能量接受度  模拟跟踪
收稿时间:2006-01-03
修稿时间:2006-01-032006-02-06

Study of Touschek Lifetime in SSRF Storage Ring
JIANG Bo-Cheng,ZHAO Zhen-Tang,LIU Gui-Min.Study of Touschek Lifetime in SSRF Storage Ring[J].High Energy Physics and Nuclear Physics,2006,30(7):693-698.
Authors:JIANG Bo-Cheng  ZHAO Zhen-Tang  LIU Gui-Min
Institution:1Shanghai Institute of Applied Physics, CAS, Shanghai 201800, China;2Graduate University of Chinese Academy of Sciences, Beijing 100049, China
Abstract:
Keywords:SSRF  Touschek lifetime  energy acceptance  tracking
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