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恒流应力下E2PROM隧道氧化层的退化特性研究
引用本文:李蕾蕾,刘红侠,于宗光,郝跃.恒流应力下E2PROM隧道氧化层的退化特性研究[J].物理学报,2006,55(5).
作者姓名:李蕾蕾  刘红侠  于宗光  郝跃
基金项目:国家科技攻关项目;中国科学院资助项目
摘    要:在电容测量的基础上研究了薄隧道氧化层在恒定Fowler-Nordheim(F-N)隧穿电流下的退化情况.这种退化是恒流应力和时间的函数,对恒流应力大小的依赖性更加强烈,隧道氧化层在F-N电流下的退化是注入电荷密度(Qinj)的函数.在较低Qinj下氧化层中发生正电荷俘获,在较高Qinj下发生负电荷俘获,导致栅压变化的反复.

关 键 词:隧道氧化层  退化  恒流应力

Degradation of tunnel oxide in E2PROM under constant current stress
Li Lei-Lei,Liu Hong-Xia,Yu Zong-Guang,Hao Yue.Degradation of tunnel oxide in E2PROM under constant current stress[J].Acta Physica Sinica,2006,55(5).
Authors:Li Lei-Lei  Liu Hong-Xia  Yu Zong-Guang  Hao Yue
Abstract:
Keywords:E2PROM
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