用XPS方法研究Cr-P-SiO2催化剂的表面特征和催化性能

以XPS法证明了铬与磷的配比及原料铬的价态是影响Cr-P-SiO_2催化活性的最主要因素。考察了在反应过程中催化剂表面状态的变化。从P_(2p)光电子谱带强度的增加,发现催化剂中的磷在反应过程中逐渐向表面迁移,同时从Cr_(2p~(3/2))光电子谱的解迭中发现在反应过程中催化剂表面Cr(Ⅲ)的量逐渐在增加。研究了随着这些变化而引起的催化活性的差异,认为磷向表面迁移是Cr-P-SiO_2催化剂永久性失活的主要原因。