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X射线荧光光谱法测定锶铁氧体半成品中铁、锶、硅
引用本文:杜治国,朱泽民. X射线荧光光谱法测定锶铁氧体半成品中铁、锶、硅[J]. 理化检验(化学分册), 2011, 0(5)
作者姓名:杜治国  朱泽民
作者单位:北矿磁材科技股份有限公司;
摘    要:将样品在玛瑙研钵中与淀粉混合研磨,然后倒入压样机钢环模具中,在30 t压力下,采用粉末压片制样法压制成型。用X射线荧光光谱法测定锶铁氧体半成品中铁、锶、硅的含量。经试验验证压片时样品与黏合剂淀粉的最佳质量比为5比1。此法用于锶铁氧体半成品样品分析,3种元素的相对标准偏差(n=11)分别为0.06%,0.14%,0.70%,测定值与常规方法测定值相一致。

关 键 词:X射线荧光光谱  锶铁氧体半成品        

XRFS Determination of Iron,Strontium and Silicon in Semi-finished Product of Strontium Ferrite
DU Zhi-guo,ZHU Ze-min. XRFS Determination of Iron,Strontium and Silicon in Semi-finished Product of Strontium Ferrite[J]. Physical Testing and Chemical Analysis Part B:Chemical Analgsis, 2011, 0(5)
Authors:DU Zhi-guo  ZHU Ze-min
Affiliation:DU Zhi-guo,ZHU Ze-min(BGRIMM Magnetic Material Technology Co.,Ltd.,Beijing 100070,China)
Abstract:
Keywords:XRFS  Semi-finished product of strontium ferrite  Iron  Strontium  Silicon  
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