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高功率固体激光装置光学元件“缺陷”分布的功率谱密度方法及等效求法
引用本文:周丽丹,粟敬钦,李平,刘兰琴,王文义,王方,莫磊,程文雍,张小民.高功率固体激光装置光学元件“缺陷”分布的功率谱密度方法及等效求法[J].物理学报,2009,58(9):6279-6284.
作者姓名:周丽丹  粟敬钦  李平  刘兰琴  王文义  王方  莫磊  程文雍  张小民
作者单位:中国工程物理研究院激光聚变研究中心,绵阳 621900
基金项目:中国工程物理研究院科学技术发展基金(批准号:2007B08005)资助的课题.
摘    要:提出采用功率谱密度(PSD)的方法来描述光学元件的“缺陷”分布状况.以数目巨大的微米量级振幅调制型缺陷为例,基于统计思想,得到了光学元件“缺陷”分布等效PSD的求法,并验证了等效求法的合理性. 关键词: 功率谱密度 统计分析 等效求法 “缺陷”

关 键 词:功率谱密度  统计分析  等效求法  “缺陷”
收稿时间:2008-12-15

Power spectral density method of defects on optical elements of high-power laser facility and its equivalent algorithm
Zhou Li-Dan,Su Jing-Qin,Li Ping,Liu Lan-Qin,Wang Wen-Yi,Wang Fang,Mo Lei,Cheng Wen-Yong,Zhang Xiao-Min.Power spectral density method of defects on optical elements of high-power laser facility and its equivalent algorithm[J].Acta Physica Sinica,2009,58(9):6279-6284.
Authors:Zhou Li-Dan  Su Jing-Qin  Li Ping  Liu Lan-Qin  Wang Wen-Yi  Wang Fang  Mo Lei  Cheng Wen-Yong  Zhang Xiao-Min
Abstract:The method of power spectral density(PSD) to describe defects existing on optical elements was proposed for the first time. An equivalent PSD algorithm was composed for treating the presence of plenty of amplitude-modulating micrometer-siged defects using statistical theory, and the method was validated by simulation.
Keywords:power spectral density  statistical analysis  equivalent method  defects
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