| 电感耦合等离子体原子发射光谱法同时测定纯硼等13个杂质元素 |
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| 引用本文： | 宋武元,张桂广,郑建国.电感耦合等离子体原子发射光谱法同时测定纯硼等13个杂质元素[J].理化检验(化学分册),2005,41(11):806-808,811. |
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| 作者姓名： | 宋武元 张桂广 郑建国 |
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| 作者单位： | 1. 广州出入境检验检疫局,化矿金检测中心,广州,510623
2. 广东省韶关出入境检验检疫局,韶关,512023 |
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| 摘 要： | 研究了纯硅中微量和痕量杂质元素铝、钙、铁、锰、磷、铬、铜、镍、钛、钒、锆、砷和硼等电感耦合等离子体原子发射光谱（ICP—AES）的同时测定方法，样品以硝酸、盐酸和氢氟酸挥硅处理方法，在样品处理过程中，加入适量的甘露醇能够抑制硼的挥发。在优化选定的仪器条件和介质中测定纯硅样品和纯硅标准样品。纯硅样品中13个杂质元素的回收率均在92．0％～105．09／6之间，相对标准偏差均小于5．0％。
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| 关 键 词： | ICP-AES 纯硅 13种杂质元素 |
| 文章编号： | 1001-4020（2005）11-0806-03 |
| 收稿时间： | 2005-06-30 |
| 修稿时间： | 2005-06-30 |
ICP-AES DETERMINATION OF 13 IMPURITY ELEMENTS IN PURE SILICON |
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| SONG Wu-yuan,ZHANG Gui-guang,ZHENG Jian-guo.ICP-AES DETERMINATION OF 13 IMPURITY ELEMENTS IN PURE SILICON[J].Physical Testing and Chemical Analysis Part B:Chemical Analgsis,2005,41(11):806-808,811. |
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| Authors: | SONG Wu-yuan ZHANG Gui-guang ZHENG Jian-guo |
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| Institution: | 1. Guangzhou Entry-Exit Inspection and Quarantine Bureau,Guangzhou 510623, China; 2. Shaoguan Entry-Exit Inspection and Quarantine Bureau, Shaoguan 512023, China |
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| Abstract: | |
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| Keywords: | ICP-AES 13 Impurity elements Pure silicon |
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