| 表面热电离质谱的进展 |
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| 引用本文： | 黄敏 陈彦. 表面热电离质谱的进展[J]. 分析科学学报, 1996, 12(3): 242-247 |
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| 作者姓名： | 黄敏 陈彦 |
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| 作者单位： | 电气通信大学自然科学系 |
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| 摘 要： | 本文评述了表面热电离质谱（ＴＩＭＳ），特别是负离子质谱（ＮＴＩ－ＭＳ）对非金属和具有高电离电位的金属元素的同位素测定的进展，引用文献３４篇。
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| 关 键 词： | 无机质谱 负离子 同位素 表面热电离质谱 |
Progress in Thermal Ionization Mass Spectrometry |
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| Huang Min,Chen Yan. Progress in Thermal Ionization Mass Spectrometry[J]. Journal of Analytical Science, 1996, 12(3): 242-247 |
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| Authors: | Huang Min Chen Yan |
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| Abstract: | A review on thermal ionization mass spectrometry(TIMS), especially negative ion TIMS(NTI MS) developed for isotopic measurements of nonmetals and metals with high ionization potenials, is given with 34 references. |
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| Keywords: | Inorganic mass spectrometry Negative ion Isotopic measurement |
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