| 微波表面电阻TC90方案的测量精度实验分析 |
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| 引用本文： | 吉争鸣,吴培亨,许伟伟,孙国柱,郭大元.微波表面电阻TC90方案的测量精度实验分析[J].低温物理学报,2005,27(Z1):711-716. |
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| 作者姓名： | 吉争鸣 吴培亨 许伟伟 孙国柱 郭大元 |
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| 作者单位： | 南京大学电子科学与工程系,南京,210093 |
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| 基金项目： | 新材料领域项目，国家超导标准化技术委员会课题 |
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| 摘 要： | 由于超导薄膜的表面阻抗Rs这一参量对超导微波元件的设计和开发有很重要意义,测量超导薄膜的表面阻抗Rs也就非常重要.目前国际上制定了高温超导薄膜在微波波段上表面阻抗Rs电特性的标准测量方案:IEC/TC90.此方案采用介质杆谐振器法测量表面阻抗的原理,使用蓝宝石介质杆和超导膜组成的谐振器法测量超导膜的Rs.本文分析了各个测量量对标准测量方案的测量精度,分析了在12GHz微波频率下,系统的各个实际部件的加工误差.认为频谱曲线的测量误差,即背景误差对最终测量结果Rs的影响是主要的.
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| 关 键 词： | 高温超导薄膜 表面电阻 测量误差 |
| 修稿时间： | 2005年4月1日 |
THE MEASURING PRECISION ANALYSIS OF SURFACE RESISTANCE IN MICROWAVE BAND BASED ON IEC/TC90 |
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| JI ZHENG-MING,WU PEI-HENG,XU WEI-WEI,SUN GUO-HU,GUO DA-YUAN.THE MEASURING PRECISION ANALYSIS OF SURFACE RESISTANCE IN MICROWAVE BAND BASED ON IEC/TC90[J].Chinese Journal of Low Temperature Physics,2005,27(Z1):711-716. |
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| Authors: | JI ZHENG-MING WU PEI-HENG XU WEI-WEI SUN GUO-HU GUO DA-YUAN |
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