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化学溶液沉积法在LaAlO3基底上制备La0.5Sr0.5TiO3外延薄膜
引用本文:高锋,李凤华,李英楠,王娜,樊占国.化学溶液沉积法在LaAlO3基底上制备La0.5Sr0.5TiO3外延薄膜[J].中国稀土学报,2009,27(1).
作者姓名:高锋  李凤华  李英楠  王娜  樊占国
作者单位:东北大学材料与冶金学院,辽宁,沈阳,110004
基金项目:国家自然科学基金委员会青年科学基金,辽宁省博士科研启动基金 
摘    要:在常压下采用经济、适合规模化生产的化学溶液沉积法生长外延的La1-xSrxTiO3薄膜, 为YBa2Cu3O7-σ(YBCO)涂层导体提供导电缓冲层. 前驱溶液经旋转涂覆在单晶LaAlO3(001)基底上, 在纯氩气氛下分别于840, 890, 940和990 ℃恒温60 min制备薄膜. X射线衍射(XRD)分析, 在890~990 ℃的热处理条件下, 均得到纯净的具有良好外延性的La1-xSrxTiO3薄膜. 通过扫描电子显微镜(SEM)和扫描隧道显微镜(STM)观察, 样品表面光滑致密, 膜厚约为180 nm. 通过半定量能谱(EDS)分析, 确定薄膜成分为La0.4Sr0.6TiO3, 表明热处理过程中元素La部分挥发. 在890 ℃热处理温度下制得薄膜的电阻率约为1×10-2 Ω · cm.

关 键 词:化学溶液沉积  缓冲层  超导薄膜  稀土

Preparation of Epitaxial La0.5Sr0.5TiO3 Thin Films on LaAlO3 Substrates by Chemical Solution Deposition
Gao Feng,Li Fenghua,Li Yingnan,Wang Na,Fan Zhanguo.Preparation of Epitaxial La0.5Sr0.5TiO3 Thin Films on LaAlO3 Substrates by Chemical Solution Deposition[J].Journal of the Chinese Rare Earth Society,2009,27(1).
Authors:Gao Feng  Li Fenghua  Li Yingnan  Wang Na  Fan Zhanguo
Abstract:
Keywords:La0  5Sr0  5TiO3
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