| 基于BDD的组合电路等价性检验方法 |
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| 引用本文： | 李光辉,邵明,李晓维.基于BDD的组合电路等价性检验方法[J].微电子学与计算机,2003,20(2):48-51,55. |
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| 作者姓名： | 李光辉 邵明 李晓维 |
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| 作者单位： | 1. 中国科学院计算技术研究所,北京,100080;浙江林学院信息系,杭州,311300
2. 中国科学院计算技术研究所,北京,100080 |
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| 基金项目： | 国家自然科学基金重点项目(90207002)中科院计算所领域前沿青年基金项目(20026180-6)北京市家重点科技项目(H020120120130) |
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| 摘 要： | 文章分析了目前常用的等价性检验方法的特点，包括功能性和结构性的验证方法，讨论了基于二叉判决图（BDD）的组合电路等价性检验方法，并分析了等价性检验过程中的误判问题及其消除方法，然后给出了一种关于带黑匣子的部分实现的隐式等价性检验方法，实验结果表明了该方法的有效性。
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| 关 键 词： | BDD 形式验证 等价性检验 符号模拟 三叉判决图 组合电路 专用集成电路 |
Combinational Equivalence Checking Based on BDDs |
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