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Enhancement‐Mode β‐Ga2O3 Metal‐Oxide‐Semiconductor Field‐Effect Transistor with High Breakdown Voltage over 3000 V Realized by Oxygen Annealing
Authors:Yuanjie Lv  Xingye Zhou  Shibing Long  Yuangang Wang  Xubo Song  Xuanze Zhou  Guangwei Xu  Shixiong Liang  Zhihong Feng  Shujun Cai  Xingchang Fu  Aimin Pu  Ming Liu
Abstract:
Keywords:breakdown voltages  Ga2O3 metal‐oxide‐semiconductor field‐effect transistors  oxygen annealing  source field plates
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