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Correction method for X-ray fluorescent determination of chromium in high-alloy steels and nickel-base alloys
Authors:Tadashi Mochizuki  Takanori Akiyoshi and Hideo Iwata
Institution:(1) Analysis Research Department, Technical Research Center, Nippon Kokan K. K., Minamiwatarida-cho, Kawasaki-ku, Kawasaki, Japan
Abstract:Summary A new interelement correction method has been developed for the X-ray fluorescent determination of chromium in high-alloy steels and nickel-base alloys. The calibration equation which was derived from the JIS (Japanese Industrial Standards) model is applicable over wide ranges of compositions by preparation of only Fe-Cr binary standards.The new approach gave better accuracy than that based on Rasberry-Heinrich correction model. The accuracies (sgrd) were 0.08% for high-alloy steels and 0.14% for nickel-base alloys.
Korrekturmethode für die röntgenfluorescenzspektrometrische Bestimmung von Chrom in hochlegierten Stählen und Nickellegierungen
Zusammenfassung Die Eich-Gleichung für das neue Korrekturverfahren wurde vom JIS-Modell (Japanese Industrial Standards) abgeleitet und ist über einen weiten Bereich von Zusammensetzungen durch Herstellung von lediglich binären Fe-Cr-Standards einsetzbar. Das beschriebene Verfahren bietet eine bessere Genauigkeit als die Methode nach dem Korrekturmodell von Rasberry-Heinrich. Sie betrug 0,08% für hochlegierte Stähle und 0,14% für Nickellegierungen.
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