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| 用RIXE方法分析红外材料Hg_(1-x)Cd_xTe | |
| 作者姓名： | 陈素清 张大忠 陈剑瑄 王能明 |
| 作者单位： | 四川大学原子核科学技术研究所(陈素清，张大忠，陈剑瑄)，四川大学原子核科学技术研究所(王能明) |
| 摘 要： | 利用四川大学原子核科学技术研究所的Van de Graaff质子静电加速器和半导体Si(Li)谱仪,应用PIXE(质子激发X射线发射)分析方法,测定了Hg_(1-x)Cd_xTe样品中微量元素的成份和含量。 |
| 本文献已被 CNKI 等数据库收录！ | |
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