一种测量动态光谱特性的新方法 |
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作者姓名: | 蒋建中 徐才龙 |
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作者单位: | 上海机械学院(蒋建中),上海机械学院(徐才龙) |
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摘 要: | 根据光学薄膜在制备过程中测试动态光谱特性的需要,我们研制了一种测试动态光谱特性的装置。该装置工作在400nm—700nm可见光谱范围内,光谱扫描周期为二十毫秒。该装置利用国产紫外增强型硅靶摄象管作为光电转换器件,这种管子的短波段响应灵敏度较高,对溴钨灯光源的辐射特性有一定的补偿作用。多色仪采用Curney—Turner水平对称型光栅分光系统。摄象管靶面置于多色仪象方焦平面上。
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