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基于反射率探测的多记录层相变可擦重写光学存储技术
作者姓名:胡磊力
作者单位:浙江大学近代光学仪器国家重点实验室!杭州310027
摘    要:对多记录层光学存储技术进行了详细的论述。提出了采用探测反射率来实现三维先学存储的新方案。研究相变可擦重写存储介质的特性。为系统的实现提供了较为完善的设计思路。为实现三雉光学存储奠定了坚实的基础。

关 键 词:光学存储  可擦重写  多记录层  基于反射率探测
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