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基于反射率探测的多记录层相变可擦重写光学存储技术
作者姓名:
胡磊力
作者单位:
浙江大学近代光学仪器国家重点实验室!杭州310027
摘 要:
对多记录层光学存储技术进行了详细的论述。提出了采用探测反射率来实现三维先学存储的新方案。研究相变可擦重写存储介质的特性。为系统的实现提供了较为完善的设计思路。为实现三雉光学存储奠定了坚实的基础。
关 键 词:
光学存储
可擦重写
多记录层
基于反射率探测
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