γγ符合测量中反冲电子谱的利用 |
| |
作者姓名: | 彭海波 刘枫飞 张迁 管明 孙梦利 |
| |
作者单位: | 兰州大学核科学与技术学院 |
| |
摘 要: | 符合测量是一种常规的测量手段.除了在核物理中的应用,它还被广泛应用于基本物理参数测量、材料分析等领域.此工作讨论了反冲电子谱对γγ符合测量计数率的影响.并设计强、弱两种干扰条件下,γγ符合测量中真符合计数率随不同阈值的变化.实验结果证实,增加反冲电子谱的符合测量能够提高真符合计数率;强、弱本底干扰对总符合计数率有一定影响,但此影响可以通过数据修正的方式消除.
|
本文献已被 CNKI 等数据库收录! |
|